Přejít k hlavnímu obsahu

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Computer Analysis and Drop Test of Electron Microscope Assembly
Autoři: Paščenko Petr
Rok: 2009
Druh publikace: článek ve sborníku
Název zdroje: Sborník příspěvků z VII. mezinárodní konference Dynamika tuhých a deformovatelných těles 2009
Název nakladatele: Univerzita Jana Evangelisty Purkyně v Ústí nad Labem
Místo vydání: Ústí nad Labem
Strana od-do: 109-113
Tituly:
Jazyk Název Abstrakt Klíčová slova
cze Výpočetní analýza a pádová zkouška elektronového mikroskopu Byl proveden výpočetní model pro optimalizaci konstrukce rámu pro přepravu elektronového mikroskopu. Výpočty byly porovnávány s měřením pádové zkoušky.
eng Computer Analysis and Drop Test of Electron Microscope Assembly Numerical computer simulation and practical test of the electron microscope assembly. Creating a proper design of supporting frame. FEM;computer analysis;material properties;