Publikace detail

Investigations of resolution limits for indirect microwave holographic imaging

Autoři: Yurduseven Okan | Smith David | Livingstone Bryan | Schejbal Vladimír | You Zhonghui

Rok: 2013

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering

Název nakladatele: Wiley-Blackwell

Místo vydání: Hoboken

Strana od-do: 410-416

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Vyšetřování mezí rozlišení pro nepřímé mikrovlnné holografické zobrazení	Práce popisuje jak nepřímá holografie, která byla dříve aplikovaná pro určení anténních vyzařovacích charakteristik, se může upravit pro zobrazení pasivních objektů. Poskytuje detaily jak komplexní hodnoty rozptylového pole lze získat jednoduše a levně ze vzorků měření skalární intenzity na jediné snímací aperturtuře.	mikrovlnné zobrazení; mikrovlnná holografie; mikrovlnné zobrazení v blízkém poli; rekonstrukce obrazu
eng	Investigations of resolution limits for indirect microwave holographic imaging	This work describes how indirect holography which has previously been applied to the determination of antenna radiation patterns can be adapted for the imaging of passive objects. It provides details of how complex scattered field values can be obtained in a simple and inexpensive manner from sampled scalar intensity measurements taken over a single scanning aperture. This work uses indirect holographic techniques to image a number of simple objects including a rectangular metallic plate, a small metal plate covered by a dielectric sheet and a small metallic circular annulus. This work demonstrates that good quality images can be reconstructed from simple scalar intensity patterns. It demonstrates that clear outlines can be obtained in particular from reconstructed phase patterns and that good images can be obtained from objects with dimensions of the order of a half wavelength. (c) 2013 Wiley Periodicals, Inc. Int J RF and Microwave CAE, 2013.	microwave imaging; microwave holography; near-field microwave imaging; image reconstruction

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte