Publikace detail

The development of indirect microwave holography for measurement and imaging applications

Rok: 2015

Druh publikace: článek ve sborníku

Název zdroje: 15th Mediterranean Microwave Symposium (MMS) 2015 IEEE

Název nakladatele: IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)

Místo vydání: New York

Strana od-do: 1-4

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Vývoj nepřímé holografické metody pro měření a aplikace zobrazení	Práce popisuje vývoj nepřímé holografické techniky pro mikrovlnné měření a zobrazení. Podává základní teorii nepřímé holografie a jak se vztahuje k optické holografii. Začíná popisem počátečních prací pomocí jedné přijímací antény pro určení anténních vyzařovacích charakteristik a rekonstrukcí anténního aperturního pole. Dále je popis adaptace těchto technik pro zobrazení pasivních objektů. a zobrazení pomocí nepřímé holografie. Tyto techniky obsahují zpětnou projekci pro rekonstrukci objektů ve volném prostoru a inverzní rozptylové techniky pro objekty v nehomogenním prostředí.	mikrovlnná měření; nepřímá holografie; rekonstrukce zobrazení; inverzní rozptyl
eng	The development of indirect microwave holography for measurement and imaging applications	This work describes the development of indirect holographic techniques for microwave measurements and imaging. It outlines the basic theory of indirect holography and how it relates to optical holographic techniques. It starts with a description of the initial work using a single receiving antenna for the determination of antenna radiation patterns and the reconstruction of antenna aperture fields . This is followed by a description of how these techniques can be adapted for the imaging of passive objects. It also outlines the techniques for the imaging of objects using indirect holography. These techniques include simple back propagation for the reconstruction of objects in free space and inverse scattering techniques for objects in inhomogeneous media.	microwave measurements; indirect holography; image reconstruction; inverse scattering

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte