Publikace detail

Automatic test-bench for SiC power devices using LabVIEW

Autoři: Leuchter Jan | Pham Ngoc Nam | Nguyen Huy Hoang

Rok: 2024

Druh publikace: článek v odborném periodiku

Název zdroje: Journal of Electrical Engineering

Název nakladatele: Slovenská technická univerzita v Bratislave

Místo vydání: Bratislava

Strana od-do: 77-85

Tituly:

Jazyk	Název	Abstrakt	Klíčová slova
cze	Automatický systém testování polovodičů na bázi SiC s využitím LabVIEW	Článek je věnován vylepšení stávajících modelů SiC polovodičů, které se používají ve výkonové elektronice. Byl navržen systém pro testování SiC s využitím prostředí LabVIEW. Navržené zkušební stanoviště umožňuje nejen měření statických charakteristik výkonových zařízení s karbidem křemíku, ale také extrakci klíčových parametrů požadovaných simulacemi. Tyto extrahované parametry jsou poté použity ve stávajícím modelu pro potřeby simulací.	Výkonové polovodiče, SiC, LabVIEW, SPICE model
eng	Automatic test-bench for SiC power devices using LabVIEW	This paper is devoted to the improvement existing models of electronics devices, which are used in powers electronics as switching devices, and investigate a LabVIEW-based automatic test-bench for Silicon carbide (SiC) power devices. In recent years, power electronic devices are required to be capable handle with higher voltage, leads to development of new generation of power electronic devices, such as SiC devices. However, using a simulation platform, such as Spice, to diminish the complexity of power electronic design with these new devices is hindered by the lack of precise models. The proposed test-bench enables not only measuring static characteristics of SiC power devices, but also extracting key parameters required by simulations. These extracted parameters are then employed in the existing device model, and the simulation results which are based on the model with original parameters and models with extracted parameters are compared with measured results. The comparison clearly demonstrates that parameters obtained from the proposed test-bench significantly enhance the Spice model.	Power Eelectronic Devices; SiC; LabVIEW; PSpice; Spice Model

Vyhledávání

Přihlášení pro studenty

Přihlášení pro zaměstnance

Publikace detail

Katedry

Pracoviště

Jak nás najdete?

Služby

Často hledáte